電磁兼容性測試主要包含?電磁干擾（EMI）?和?電磁抗擾度（EMS）?兩大類測試 。前者檢測設(shè)備對外產(chǎn)生的干擾，后者評(píng)估設(shè)備抵抗外部干擾的能力 

對外產(chǎn)生多少干擾

此類測試旨在確保設(shè)備不會(huì)干擾其他電子產(chǎn)品或電網(wǎng) 。??

?輻射發(fā)射（RE）?：檢測設(shè)備向空間輻射的電磁波強(qiáng)度，如手機(jī)是否干擾路由器 。

?傳導(dǎo)發(fā)射（CE）?：監(jiān)測設(shè)備通過電源線或信號(hào)線向電網(wǎng)“倒灌"的干擾電壓或電流 。

?諧波與閃爍?：測量設(shè)備工作時(shí)向電源注入的高次諧波及引起的電壓波動(dòng)

抵御外界干擾能力

此類測試驗(yàn)證設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境下能否正常工作

• ?靜電放電（ESD）?

  ：模擬人體或物體接觸時(shí)的靜電沖擊，防止芯片擊穿或程序跑飛 。

• ?浪涌與脈沖群（Surge/EFT）?

  ：模擬雷擊感應(yīng)或開關(guān)切換產(chǎn)生的高壓瞬態(tài)沖擊 。

• ?輻射與傳導(dǎo)抗擾度（RS/CS）?

  ：評(píng)估設(shè)備抵御空間電磁波或線纜耦合干擾的能力 。

• ?電壓暫降與中斷（DIP）?

  ：測試電網(wǎng)波動(dòng)或斷電時(shí)設(shè)備是否宕機(jī)或丟數(shù)據(jù) 

常見測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

測試通常遵循國際電工委員會(huì)（IEC）或國家標(biāo)準(zhǔn)（GB/T）。???

• ?國際標(biāo)準(zhǔn)?

  ：如 

  IEC 61000 系列

  ，涵蓋各類抗擾度與發(fā)射測試 。

• ?國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)?

  ：如 

  GB/T 17626 系列

  ，對應(yīng)具體的測試方法與技術(shù)要求 

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• 
  

• ?